濕熱試驗(yàn)適用于對(duì)軍用裝備進(jìn)行濕熱試驗(yàn)，確定裝備耐受濕熱大氣影響的能力。 本部分規(guī)定了軍用裝備的實(shí)驗(yàn)室濕熱實(shí)驗(yàn)的目的與應(yīng)用、剪裁指南、試驗(yàn)要求、試驗(yàn)過(guò)程及檢測(cè)結(jié)果分析等內(nèi)容。 濕熱會(huì)對(duì)裝備...
查看詳情 +恒溫恒濕測(cè)試可以模擬高溫、低溫、濕熱環(huán)境對(duì)測(cè)試品進(jìn)行特定環(huán)境下溫度和濕度試驗(yàn)。恒溫恒濕測(cè)試可以保證被測(cè)試產(chǎn)品處于同一溫濕度環(huán)境條件下。
查看詳情 +溫濕度循環(huán)試驗(yàn)的條件包括：高溫溫度、高溫保持時(shí)間、下降速率、低溫溫度、低溫保持時(shí)間、上升速率、循環(huán)次數(shù)。其是用來(lái)揭示樣品由不同于吸濕的“呼吸”作用導(dǎo)致的缺陷。在自然氣候中，溫度(Temperature)與濕度(Humidity)是無(wú)法分離的環(huán)境條件，而此環(huán)境條件往往隨地理位置不同而出現(xiàn)氣候條件不同，例如我國(guó)北方地區(qū)冬天是低溫低濕的環(huán)境，而南方地區(qū)的夏天是高溫高濕的環(huán)境。無(wú)論地理位置如何不同，在溫度與濕度環(huán)境上均存在著四種組合狀態(tài)：包括高溫/低濕(HighTemperature/LowHumidity)、高溫/高濕(HighTemperature/HighHumidity)、低溫/高濕(LowTemp./HighHumidity)與低溫/低濕(LowTemperature/LowHumidity)。
查看詳情 +溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)M的環(huán)境情況有：當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí)；當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí)；安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中；在某些運(yùn)輸和貯存條件下。?意義目的是：確定測(cè)試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時(shí)候的適應(yīng)性以及被破壞性的。
查看詳情 +溫濕度循環(huán)試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有：GB/T2423.3，GB/T2423.4，GB/T2423.9，GB/T2423.34，GB/T2423.50，IEC60068-2-78，IEC60068-2-30，溫濕度循環(huán)試驗(yàn)是評(píng)估組件及產(chǎn)品經(jīng)溫度、濕度環(huán)境循環(huán)或儲(chǔ)存后之功能特性變化，或在此環(huán)境中之操作功能。
查看詳情 +手機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試項(xiàng)目中高低溫測(cè)試項(xiàng)目包括：低溫測(cè)試、高溫測(cè)試、熱沖擊試驗(yàn)、溫度循環(huán)測(cè)試、高溫高濕存貯試驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1、GB/T2423.2、GB/T2423.3、GB/T2423.4、GB/T2423.22、GB/T2423.34。
查看詳情 +無(wú)人機(jī)常用的六大可靠性測(cè)試：高 低 溫 測(cè) 試，跌 落 測(cè) 試，GPS 搜 星 測(cè) 試，振 動(dòng) 測(cè) 試，按 鍵 測(cè) 試，線 路 彎 折 測(cè) 試。影響無(wú)人機(jī)可靠性的環(huán)境因素有降雨、結(jié)冰、風(fēng)、雷諾數(shù)。無(wú)人機(jī)是一種自身攜帶傳感器少，本身不能排除故障，自主控制能力較差的一種無(wú)人駕駛飛行器，其控制在很大程度上要比有人作戰(zhàn)飛機(jī)復(fù)雜得多，一旦發(fā)生故障無(wú)人機(jī)的生存概率比較低。
查看詳情 +溫度沖擊測(cè)試可針對(duì)電子產(chǎn)品的一種可靠性測(cè)試，一般電子產(chǎn)品做的多的是從高溫環(huán)境突然進(jìn)入低溫環(huán)境的測(cè)試。溫度沖擊可加速產(chǎn)品老化，檢驗(yàn)電子產(chǎn)品的性能，可以剔除產(chǎn)品的早期故障，實(shí)驗(yàn)本身是一個(gè)破壞性實(shí)驗(yàn)。
查看詳情 +冷熱沖擊和快速溫變明顯的區(qū)別是溫度變化的速率不同。冷熱沖擊測(cè)試是指樣品從高溫環(huán)境突然進(jìn)入低溫環(huán)境，則認(rèn)為是冷熱沖擊?？焖贉刈兪侵窯B/T、IEC等溫度變化測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)定溫變速率的溫度變化測(cè)試（Nb），一般>2℃/min需要用快速溫變?cè)囼?yàn)箱測(cè)試。
查看詳情 +低溫對(duì)產(chǎn)品的影響：橡膠等柔韌性材料的彈性降低，并產(chǎn)生破裂；金屬和塑料脆性增大，導(dǎo)致破裂或產(chǎn)生裂紋等。高溫對(duì)產(chǎn)品的影響：導(dǎo)致材料之間的粘結(jié)和遷移；加活動(dòng)部件之間的磨損，影響產(chǎn)品的電性能等。
查看詳情 +高低溫測(cè)試要多長(zhǎng)時(shí)間主要看被檢測(cè)的樣品主要應(yīng)用于哪個(gè)行業(yè)，使用時(shí)的環(huán)境差不多就能判斷出檢測(cè)所需的溫度。然后在了解一下行業(yè)需要滿足的標(biāo)準(zhǔn)，其中會(huì)規(guī)定樣品在高溫環(huán)境、低溫環(huán)境下各自儲(chǔ)存的時(shí)間，再加上高低溫...
查看詳情 +溫濕度三綜合振動(dòng)測(cè)試是指綜合溫度、濕度、振動(dòng)三個(gè)環(huán)境應(yīng)力的試驗(yàn)。本試驗(yàn)是用于考核產(chǎn)品在溫濕度和振動(dòng)三綜合的環(huán)境下運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過(guò)程...
查看詳情 +高低溫測(cè)試是是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)，高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)目前測(cè)試實(shí)驗(yàn)室主要參考GB2423標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)部分比較多，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫、低溫、恒定濕熱和交變濕熱等部分標(biāo)準(zhǔn)為測(cè)試報(bào)告參考的國(guó)家...
查看詳情 +高低溫測(cè)試報(bào)告是用于測(cè)試產(chǎn)品/樣品在高溫和低溫環(huán)境下的能力，根據(jù)相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)和方法來(lái)測(cè)試。高低溫測(cè)試報(bào)告是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫或低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性能力。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫或低溫...
查看詳情 +溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
查看詳情 +溫濕度循環(huán)測(cè)試是評(píng)估組件及產(chǎn)品經(jīng)溫度、濕度環(huán)境循環(huán)或儲(chǔ)存后之功能特性變化，或在此環(huán)境中之操作功能。產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。溫濕度循環(huán)試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：高溫溫度、高溫保...
查看詳情 +溫濕度循環(huán)測(cè)試是供用戶對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度測(cè)試，評(píng)估組件及產(chǎn)品經(jīng)溫度、濕度環(huán)境循環(huán)或儲(chǔ)存后之功能特性變化，或在此環(huán)境中之操作功能。產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定的功...
查看詳情 +HAST高度加速老化測(cè)試是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間,用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命...
查看詳情 +冷熱沖擊測(cè)試又名溫度沖擊測(cè)試或高低溫沖擊測(cè)試，是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定測(cè)試和批產(chǎn)階段的例行測(cè)試中不可缺少的測(cè)試。 冷熱沖擊測(cè)試的目的 工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)...
查看詳情 +冷熱沖擊試驗(yàn)和溫度循環(huán)試驗(yàn)都是環(huán)境可靠性試驗(yàn)的一種，驗(yàn)證產(chǎn)品在溫度變化中質(zhì)量和穩(wěn)定性情況。同樣對(duì)于溫度變化的測(cè)試，兩者區(qū)別不同點(diǎn)又在哪里呢？溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。冷熱沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
查看詳情 +手機(jī)在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和推向市場(chǎng)期間會(huì)經(jīng)過(guò)哪些可靠性測(cè)試呢？手機(jī)可靠性是通過(guò)各類試驗(yàn)進(jìn)行驗(yàn)證分析的，在設(shè)計(jì)定型前，對(duì)手機(jī)進(jìn)行鑒定試驗(yàn)，驗(yàn)證手機(jī)是否達(dá)到規(guī)定的可靠性指標(biāo)。對(duì)批量生產(chǎn)的手機(jī)在交付使用時(shí)，要通過(guò)驗(yàn)...
查看詳情 +燈具行業(yè)做冷熱沖擊試驗(yàn)的原因有：1、LED燈的塑膠外殼無(wú)法承受環(huán)境能力，在高低溫沖擊時(shí)，LED塑膠外殼容易脆化破壞；2、LED燈在溫度急劇變化情況下出現(xiàn)燒壞的情況；3、LED燈的電路板芯片在冷熱沖擊環(huán)境下容易短路。
查看詳情 +手機(jī)在使用過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生熱量，環(huán)境溫度過(guò)高的話，可能導(dǎo)致手機(jī)這類電子產(chǎn)品無(wú)法穩(wěn)定工作。如今智能手機(jī)生產(chǎn)商對(duì)手機(jī)的質(zhì)量把關(guān)是非常重要的，所以很多手機(jī)生產(chǎn)商都會(huì)利用高低溫試驗(yàn)來(lái)檢測(cè)手機(jī)在不同的環(huán)境上的性能...
查看詳情 +冷熱沖擊試驗(yàn)是溫度變化試驗(yàn)中的一種，在溫度變化試驗(yàn)中有慢速變化的測(cè)試和快速的 溫變?cè)囼?yàn)，一般以3℃/min為分界線，冷熱沖擊測(cè)試是在特定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行快速溫度變化，轉(zhuǎn)換時(shí)間一般設(shè)定為手動(dòng)2～3分鐘，自動(dòng)少于30秒，小試件則少于10秒。常用術(shù)語(yǔ)中的溫度沖擊試驗(yàn)也屬于冷熱沖擊試驗(yàn)。
查看詳情 +常見的高溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)主要有GB國(guó)標(biāo)、ASTM、IEC等，適用的產(chǎn)品種類非常多。GB/T 1735-2009、GB/T 3512-2014、GB/T 1735-2009、ASTM D865-2011橡膠、IEC 60068-2-2-2007等。
查看詳情 +高低溫測(cè)試公司在測(cè)試設(shè)計(jì)中需要注意試驗(yàn)有關(guān)注意事項(xiàng)，達(dá)到數(shù)據(jù)合理和可靠安全性。高低溫測(cè)試是用來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性，測(cè)試的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間
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