溫度沖擊試驗是主要用于確定產(chǎn)品在溫度變化(溫度沖擊)期間和之后受到的影響，即確定產(chǎn)品能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化，而不產(chǎn)生物理破壞或功能與性能下降，其急劇變化的定義為溫度變化量大于10℃溫度沖擊(變化)試驗的另一種用途是作為考量安全性要求下對可能出現(xiàn)的潛在的安全性問題和缺陷的篩選手段，是一種用于考核產(chǎn)品安全設(shè)計(是指只要試驗條件不超過設(shè)備的設(shè)計極限的極端溫度變化速率)、生產(chǎn)工藝，剔除潛在缺陷的方法。

溫度沖擊試驗?zāi)M的環(huán)境情況

電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時，其內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。
下列情況下，可預(yù)見快速的溫度變化：
1、當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時；
2、當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時；
3、安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中；
4、在某些運輸和貯存條件下。

通電后設(shè)備中會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率的電阻器旁邊，輻射會引起鄰近元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。
當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時，人工冷卻的元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起元器件的快速溫度變化。溫度變化的次數(shù)和幅度以及時間間隔都是很重要的。

溫度沖擊試驗要求和目的
1、高低溫沖擊試驗箱試驗的目的是用來確定測試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時候的適應(yīng)性以及被破壞性的。
2、試驗箱試驗的條件，高溫箱是在：RT～150℃，低溫箱是在：RT～-40℃，試驗溫度保持的時間：1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù)：針對各個不同行業(yè)不同廠家所對應(yīng)的試驗要求不一樣，按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗方法測試。
3、高低溫沖擊試驗箱測試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內(nèi)取出來之后，應(yīng)該是在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)的，直接試驗樣品達(dá)到了溫度的穩(wěn)定性。
4、試驗箱采用的是高溫箱以及低溫箱進(jìn)行冷熱沖擊試驗的，以免提供試驗樣品經(jīng)受了周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。