AEC-Q認(rèn)證是國(guó)際汽車(chē)電子領(lǐng)域的準(zhǔn)入門(mén)檻
1994 年，克萊斯勒、福特和通用汽車(chē)三大主機(jī)廠為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車(chē)電子委員會(huì) AEC(Automotive Electronics Council)，符合AEC規(guī)范的零部件均可被三家車(chē)廠同時(shí)采用。此舉推動(dòng)了汽車(chē)零部件通用性的實(shí)施，為車(chē)載電子市場(chǎng)的快速增長(zhǎng)奠定基礎(chǔ)。目前AEC會(huì)員遍及全球各大汽車(chē)廠與汽車(chē)電子和半導(dǎo)體廠商，AEC-Q為AEC組織所制訂的車(chē)用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

目前，AEC-Q 標(biāo)準(zhǔn)已被整個(gè)汽車(chē)行業(yè)廣泛認(rèn)可和采用，獲得 AEC-Q 認(rèn)證的企業(yè)將在日益激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中搶占先機(jī)，成功打入各大主機(jī)廠和一級(jí)供應(yīng)商的供應(yīng)鏈。



AEC-Q認(rèn)證適用產(chǎn)品

標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證	六大標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)	適用產(chǎn)品
AEC-Q系列標(biāo)準(zhǔn)	AEC-Q100集成電路	集成電路IC：控制類(lèi)芯片、驅(qū)動(dòng)類(lèi)芯片、計(jì)算類(lèi)芯片、存儲(chǔ)類(lèi)芯片、傳感類(lèi)芯片、通信類(lèi)芯片、功率類(lèi)芯片、電源類(lèi)芯片、安全類(lèi)芯片、模擬芯片等。
	AEC-Q101分立半導(dǎo)體器件	二極管、齊納二極管、穩(wěn)壓二極管、整流二極管、TVS管、MOSFET、IGBT等
	AEC-Q102光電半導(dǎo)體器件	車(chē)用LED、激光器件、激光二極管、激光三極管、光電二極管/三極管、光電耦合器、OE-MCM
	AEC-Q103MEMS傳感器	MEMS壓力傳感器、MEMS麥克風(fēng)器件
	AEC-Q104多芯片組件	混合集成放大器（前置、脈沖、高頻放大器等） 電源組件（DC/DC、AC/DC變換器、EMI濾波器等） 功率組件（功率放大器、電動(dòng)機(jī)伺服電路、功率振蕩器等） 數(shù)/模、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器（A/C、D/A轉(zhuǎn)換器等） 軸角-數(shù)字轉(zhuǎn)換器（同步機(jī)-數(shù)字轉(zhuǎn)換器/分解器、雙數(shù)轉(zhuǎn)換器等） 信號(hào)處理電路（采樣保持電路、調(diào)制解調(diào)電路等）
	AEC-Q200無(wú)源元件	鉅電容和鈮電容、保險(xiǎn)絲、電阻、電磁器件(電感/變壓器)、網(wǎng)絡(luò)(R-C/C/R)、薄膜電容器、熱敏電阻器、可調(diào)電容器/電阻器、壓敏電阻、聚合白恢復(fù)保險(xiǎn)絲、石英晶體、陶瓷諧振器、鐵氧體EMI干擾抑制器/過(guò)濾器、超級(jí)電容器、鋁電解電容器、陶瓷電容器

AEC-Q測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q100           芯片應(yīng)力測(cè)試（Stress Test）的認(rèn)證規(guī)范  
AEC-Q100-001   邦線切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q100-002   人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q100-004   集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試
AEC-Q100-005   非易失性存儲(chǔ)器程序擦除耐久性，數(shù)據(jù)保留和運(yùn)行壽命測(cè)試
AEC-Q100-007   故障仿真和測(cè)試等級(jí)
AEC-Q100-008   早期壽命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009   電分配的評(píng)估
AEC-Q100-010   錫球剪切測(cè)試
AEC-Q100-011   帶電器件模式的靜電放電測(cè)試
AEC-Q100-012   12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q101           離散組件應(yīng)力測(cè)試（Stress Test）的認(rèn)證規(guī)范  
AEC-Q101-001   人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q101-003   邦線切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q101-004   其他項(xiàng)目測(cè)試
AEC-Q101-005   帶電器件模式的靜電放電測(cè)試
AEC-Q101-006   12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q102          車(chē)用分立光電半導(dǎo)體元器件可靠性驗(yàn)證測(cè)試  
AEC-Q102-001   凝露測(cè)試
AEC-Q102-002   電路板柔性測(cè)試
AEC-Q102-003   光電多芯片模塊 （OE-MCM）
AEC-Q103           汽車(chē)傳感器應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范  
AEC-Q103-002   微機(jī)電系統(tǒng)壓力傳感器器件應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q103-003   MEMS麥克風(fēng)器件應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q104           車(chē)用多芯片模塊可靠性測(cè)試  
AEC-Q200            被動(dòng)組件應(yīng)力測(cè)試（Stress Test）的認(rèn)證規(guī)范（無(wú)源器件）
AEC-Q200-001    阻燃性能測(cè)試
AEC-Q200-002    人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q200-003    梁載荷（斷裂強(qiáng)度）試驗(yàn)
AEC-Q200-004    自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序
AEC-Q200-005    PCB板彎曲/端子邦線應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q200-006    端子應(yīng)力（貼片元件）/切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q200-007    電壓浪涌測(cè)試

北測(cè)測(cè)試能力及AEC-Q100技術(shù)要求


北測(cè)測(cè)試能力及AEC-101技術(shù)要求

北測(cè)測(cè)試能力及AEC-102技術(shù)要求


北測(cè)測(cè)試能力及AEC-103技術(shù)要求
AEC-Q103-002

AEC-Q103-003


北測(cè)測(cè)試能力及AEC-104技術(shù)要求


北測(cè)測(cè)試能力及AEC-200技術(shù)要求


關(guān)于北測(cè)
北測(cè)集團(tuán)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)"NTEK"）成立于2009年，總部位于深圳，主要從事智能網(wǎng)聯(lián)汽車(chē)、電子通信、新能源的研發(fā)驗(yàn)證、檢驗(yàn)檢測(cè)、失效分析、仿真模擬和市場(chǎng)準(zhǔn)入等質(zhì)量研究技術(shù)服務(wù)。
北測(cè)擁有豐富的車(chē)規(guī)級(jí)電子認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)，已成功幫助100多家企業(yè)順利通過(guò)AEC-Q系列認(rèn)證，通過(guò)AEC-Q100對(duì)每一個(gè)芯片個(gè)案進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)。
北測(cè)集團(tuán)以車(chē)企車(chē)規(guī)芯片國(guó)產(chǎn)化需求為牽引，依托國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)，提供完善的檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)，通過(guò)AEC-Q100車(chē)用標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格把控汽車(chē)芯片安全質(zhì)量，助力國(guó)產(chǎn)車(chē)規(guī)級(jí)芯片大力發(fā)展，為打造智能汽車(chē)安全體系再添新動(dòng)力。