在自然環(huán)境中大氣壓力會隨著海拔的增高而降低，當汽車電子、航空產(chǎn)品、電池及各類元器件在高海拔或高空環(huán)境下貯存或使用時，可能會受到外界溫度和氣壓的綜合影響導致產(chǎn)品物理特性上的變化，如材料的膨脹、破裂，密封腔的漏氣或漏液等現(xiàn)象，從而引起產(chǎn)品失效。

低氣壓試驗是一種利用設備模擬高空低氣壓環(huán)境、對產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下貯存、運輸和使用的適應性進行快速驗證的試驗方法，通過低氣壓試驗可在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設計缺陷、減少產(chǎn)品在實際使用中的故障率。

氣壓、海拔的對應關系
在自然環(huán)境中，氣壓隨海拔增加呈遞減趨勢，但受到海平面標準氣壓、平均分子量、重力加速度等多個因素的影響，各地氣壓和海拔的對應關系并不完全相同，其大致趨勢如下表所示（供參考）：

北測能力
為了更好地服務客戶，北測汽車事業(yè)部特引入氣壓-溫度-濕度綜合試驗箱，其測試能力為：

溫度范圍：-70℃~180℃
濕度范圍：10%~98%RH（10℃~90℃可控濕度）
氣壓范圍：0.5kPa~100kPa（5mbar～1bar）
其它能力：安裝有 1 個 ?50mm 的通電孔，可對樣機通電和監(jiān)控

適用標準
GJB 150.2A-2009中程序Ⅰ—貯存/空運、程序Ⅱ—工作/機外掛飛；
GJB 360B－2009《電子及電氣元件試驗方法》方法105 低氣壓試驗
GJB 548B-2005《微電子器件試驗方法和程序》方法1001 低氣壓（高空工作）
GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》
GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗》
GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗》
GB/T4857.13-2005《包裝運輸包裝件基本試驗第13部分：低氣壓試驗方法》