80%的電子產品損壞大都來源于跌落碰撞，研發人員往往耗費大量的時間和成本，針對產品做相關的質量試驗，常見的可靠性測試就是跌落試驗。跌落試驗是為了電子產品包裝后在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時的情況，從而了解產品受損情況及評估產品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強度，從而根據產品實際情況及國家標準范圍內進行改進、完善包裝設計。

跌落試驗的方法有：
跌落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率做為參考標準，落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面(如有特殊要求應以產品規格或客戶測試規范來決定)。

對于不同國際規范即使產品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產品(如手機,MP3等)大多數掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產品(如手機)則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數、跌落方向。

跌落測試的原理——將包裝件按規定高度跌落于堅硬、平整的水平面上，評定包裝件承受垂直沖擊的能力和包裝對內裝物保護能力的測試。跌落測試，又名drop test/HG-318。

跌落測試參考標準
GB／T 4857.1-2019 包裝 運輸包裝件基本試驗 第1部分：試驗時各部位的標示方法
GB/T 4857.23-2012 包裝 運輸包裝件基本試驗 第23部分：隨機振動試驗方法
GB/T 4857.5-1992 包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法
GB/T 4857.17-2017 包裝 運輸包裝件基本試驗 第17部分：編制性能試驗大綱的通用規則

GBT4857.18-1992包裝 運輸包裝件 編制性能試驗大綱的定量數據

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